GOM Touch Probe mahdollistaa vaikeasti skannattavien piirteiden, kuten syvien pesäkkeiden mittaamisen. GOM Touch Probe mittaa yksittäisiä pisteitä ja primitiivejä ja sitä voi saumattomasti käyttää yhdistettynä ATOS-skannereiden keräämään dataan. GOM Touch Probe:lla on mahdollista tehdä myös vertailua suoraan CAD:iin.
Lisätietoa GOM verkkosivuilta:
Touch Probe